版权信息

  Copyright©2015-2018 烟台一诺电子材料有限公司 All Rights Reserved.  
鲁ICP备12019952号-1  网站建设:中企动力威海

封测平台

微电子封装材料及封装结构分析测试平台是由烟台一诺电子材料有限公司联合中国科学院、中国航天所属专业研究所共同搭建的“产学研用”专业化组织,汇集了封装材料研发、封装材料及封装技术的应用基础研究、应用工艺研究、微组装可靠性测试和服役失效分析等技术力量和设备基础。 
 
主要服务项目:新型互连材料研发、互连界面反应表征、服务失效机制分析、可靠性及寿命评价、元器件失效分析、元器件检测试验等,以及根据客户需求的定制业务。 

 

元器件测试试验

基本信息
所属分类:
封装测试
发布时间:
2018-04-18
浏览量
没有此类产品
产品描述

基于GJB2438A-2002《混合集成电路总规范》、GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》以及工业级集成电路要求,参照GJB128-97《半导体分立器件试验方法》、GJB360B-2009《电子及电器元件试验方法》、GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》,进行元器件所有项目的测试、筛选、鉴定检验、快速高质量完成军用/民用用户的测试试验需求,并提供全面服务保障。

 

n具体服务项目
◆分析检测试验:X射线检查、PIND、声扫、机械开盖、扫描电镜检查、剖面镜检、内部水汽含量分析
◆结合强度试验:密封、引线牢固性、芯片剪切强度、键合强度
◆机械能力试验:恒定加速度、机械冲击、扫频振动
◆服役环境试验:温度循环、热冲击、热真空、耐湿、盐雾
◆电学参数测试:分立半导体器件、集成电路、混合集成电路、阻容感元件
◆构建测试系统:采用NI板卡和LABVIEW软件快速构建测试系统

 

 

 

上一条
可靠性及寿命评价
下一条
封测技术咨询服务